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應對SAW封裝焊球失效挑戰:推拉力測試機的完整評估流程

 更新時間:2025-09-30 點擊量:93

隨著5G通信、物聯網和汽車電子產業的飛速發展,聲表面波濾波器作為射頻前端的關鍵器件,其性能與可靠性直接決定了通信質量。為了滿足終端設備小型化、高頻化及高可靠性的需求,圓片級封裝技術已成為SAW濾波器主流的先進封裝形式。然而,在制造、測試及使用過程中,WLP結構中的焊球、凸點、粘接界面等薄弱環節極易出現開裂、脫落、分層等失效問題,嚴重影響器件的電氣性能和長期壽命。

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因此,對SAW圓片級封裝進行精確、量化的機械強度測試與失效分析,是保障產品良率與可靠性的重中之重??茰蕼y控小編認為,推拉力測試是揭示這些界面結合強度的金標準"手段。本文將重點介紹如何利用科準測控的Alpha W260推拉力測試儀,對SAW圓片級封裝進行專業的失效分析,深入剖析其測試原理、遵循標準、儀器特性及標準操作流程,為相關領域的工程師和質量控制人員提供一套完整、可行的解決方案。

 

一、 測試原理

推拉力測試的核心原理是通過一個精密的力傳感器和探針,向待測樣品的特定界面施加一個持續且可控的推力或拉力,直至界面發生失效(如焊球剪切、芯片翹離、引線斷裂等),并實時記錄下失效發生時的峰值力值。通過分析這個臨界力值和失效模式,可以定量評估界面的結合強度。

剪切測試: 主要用于評估焊球、凸點與芯片或基板之間的結合強度。測試時,測試探針平行于基板平面,以恒定速度推向焊球的側面,將其從焊盤上剪切下來。

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拉力測試: 主要用于評估焊球、引線或芯片貼裝的整體抗拉強度。測試時,使用專用夾具(如鉤子、夾鉗)或膠粘方式,垂直于基板平面施加拉力,將元件拉離。

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通過對大量樣品進行測試,可以統計出平均剪切/拉力強度,并結合失效位置的顯微觀察,判斷失效模式是內聚失效(材料內部斷裂)、界面失效(粘接界面脫落)還是混合失效,從而為工藝改進提供明確方向。

 

二、 遵循標準

MIL-STD-883 Method 2019/2039: 微電子器件測試方法標準

JEDEC JESD22-B116/B117: JEDEC制定的標準,B116“ wire Bond Shear Test Method"

IPC-9701: 針對表面貼裝器件的性能測試方法

企業內部標準: 各封裝廠通常會根據自身產品結構、材料和客戶要求,制定更為嚴格的內控標準。

 

三、檢測設備

1、Alpha W260推拉力測試儀

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Alpha W260推拉力測試儀是科準測控推出的一款高精度、全自動的微電子封裝強度測試平臺,特別適用于SAW濾波器等精密器件的圓片級封裝分析。

1主要技術特點與優勢

高精度力值系統: 配備高分辨率、多量程的力傳感器,力值測量精度可達±0.25%,最小分辨率達0.001g,確保了對微小WLP焊球強度的精確捕捉。

2、zhuo越的運動與控制

X-Y-Z精密平臺: 提供微米級的定位精度和重復定位精度,確保探針能精確對準微小的焊球。

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3、強大的軟件系統

圖形化操作界面: 直觀易用,可預設和調用多種測試配方。

實時曲線顯示: 測試過程中實時顯示力-位移/時間曲線,便于即時判斷。

數據自動處理: 自動計算峰值力、平均值、標準差等統計參數,并生成專業報告。

豐富的測試工具與夾具: 提供多種規格的剪切工具、拉鉤、粘合劑等,全面覆蓋剪切、拉力等多種測試模式。

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高清視覺系統: 集成高倍率光學顯微鏡和CCD相機,提供清晰的實時圖像,輔助精確定位,并可在測試后對失效點進行觀察和拍照記錄。

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四、 標準測試流程

以下以SAW WLP焊球的剪切測試為例

1、樣品準備與安裝

將承載有SAW濾波器的圓片或切割好的單顆芯片固定在測試夾具上,確保放置平穩。

通過真空吸附或機械夾持固定,防止測試過程中移動。

2、測試程序設置

設置關鍵參數:剪切高度(通常為焊球高度的25% - 50%)、測試速度(根據標準,如100-500 μm/s)、力值量程、目標測試次數等。

3、視覺定位與對焦

使用操縱桿或軟件控制X-Y平臺,將待測焊球移動到顯微鏡視野中心。

調整Z軸高度和焦距,使探針和焊球清晰成像。使用軟件中的十字線或框選工具,精確設定探針的剪切位置。

4執行測試

啟動自動測試序列。儀器將自動完成:探針下降至設定剪切高度 -> 沿水平方向勻速推進 -> 接觸并剪切焊球 -> 記錄峰值力值 -> 探針退回原位。

測試過程中,軟件界面會實時顯示力-位移曲線。

5、數據記錄與失效分析

測試完成后,系統自動記錄峰值剪切力。

操作員使用顯微鏡觀察焊球剪切后的失效界面,判斷失效模式(例如:焊球根部斷裂、焊盤脫落、界面分層等),并在軟件中選擇對應的失效模式代碼。

Alpha W260軟件可自動將力值數據、失效圖片和失效模式關聯存儲。

6生成報告

完成一批樣品測試后,利用軟件的數據分析模塊,生成包含力值統計分布圖(如韋伯分布)、CPK過程能力指數、平均值、最小值、最大值以及代表性失效照片的綜合性測試報告。

 

以上就是小編介紹的有關于SAW濾波器圓片級封裝失效分析的相關內容了,希望可以給大家帶來幫助。如果您還對推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業指導書,原理、怎么校準和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規范、使用方法和測試視頻,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣,歡迎關注我們,也可以給我們私信和留言?!究茰蕼y控】小編將持續為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領域應用中可能遇到的問題及解決方案。